<span id="05qn5"><sup id="05qn5"></sup></span>
  • <track id="05qn5"><i id="05qn5"><code id="05qn5"></code></i></track>

    <ruby id="05qn5"><i id="05qn5"></i></ruby><optgroup id="05qn5"></optgroup>
    1. <cite id="05qn5"><li id="05qn5"></li></cite>

      <cite id="05qn5"></cite>
      全屏背景
      全屏背景
      全屏背景
      自定內容
      上海鐳慎光電科技有限公司
      自定內容
      全國服務熱線:13671868569/13795298836
      自定內容
      Shanghai Lasensor Photoelectric Technology Co., Ltd.
      圖片
      自定內容
      歡迎來到上海鐳慎光電科技有限公司!
      全站搜索
      搜索
      圖片
      導航菜單
      圖片
      產品詳情
      光學設計
      特點:
      1、有全體系的光學裝配及檢測設備
      2、能夠為客戶提供準確、快速的檢測服務。





      立即咨詢

      擁有多位資深的光學設計專家,可以為客戶提供專業化的光學系統設計服務以及產品的定制服務。光學設計項目: 成像光學設計:紅外鏡頭,手機鏡頭,指紋儀鏡頭,照相鏡頭,CCTV鏡頭,望遠鏡頭,掃描儀鏡頭,顯微鏡頭,投影鏡頭,工業鏡頭等成像系統的設計。
      另外,擁有全體系的光學裝配及檢測設備,能夠為客戶提供準確、快速的檢測服務。

      詳細參數
      儀器指標
      檢測項目
      超高精密自動測角儀( PrismMaster HR MOT Goniometer)
      測量工作臺直徑:Φ200mm;單次測量絕對精度:0.5";多次測量絕對精度:>0.2";測量范圍:0°~360°任意角度;微調旋鈕轉動精調:+/-30″
      測量棱鏡、多邊棱鏡、光楔、窗口以及其他平面光學器件
      光學測量工作站( Optical Test Station)
      工作波長:525nm;  焦距:測量范圍:-500mm~-5mm,+5mm~+500mm,重復性:±0.04%~0.3%,精度:±0.04%~±0.3%
      后截距及法蘭焦距(BFL/FFL):測量范圍:-500mm~-5mm,+5mm~+500mm,重復性:±0.04%~0.3%,精度:±0.04%~±0.3%
      曲率半徑:測量范圍:-500mm~-5mm,+5mm~+500mm,重復性:±0.04%~0.3%,精度:±0.03%~±0.3%
      驅動的XY臺面:移動范圍:200mm×150mm,分辨率:1μm
      測量柱面和球面透鏡的:焦距( EFL )、后截距及法蘭焦距( BFL , FFL )、正/負曲率半徑:對于柱面鏡,額外測量功能:中心偏差(柱軸的頂線與參照面之間的偏差,參照面可為柱面鏡的外沿面)、柱袖與機械參考線的扭轉角度。
      通用途紫外/可見光傳遞函數測試儀(IS-300 UV/VIS MTF TESTSYSTEM)
      可測量參數:MTF、最佳焦平面、場曲、象散、色差、畸變、EFL等;MTF測量精度:+/-0.02MIF;MTF測量重復性:+/-0.01MTF;
      場曲:優于+/-5μm;畸變:優于+/-0.5%;焦距測量范圍:3mm~1000mm;最大數值孔徑:0.85
      在可見光及紫外波段對光學系統或光學組件的傳遞函數、焦距和畸變等參數進行測量
      鏡面定位儀( LENSCAN System)
      測量范圍:0~600mm光學長度;測量精度:+/-0.15μm;測試重復性:標準偏差 STDEV<100nm(30次測量)
      主要用于光學系統中的透鏡間隔和厚度測量
      超高精密全自動球徑儀( Automatic Spherometer)
      曲率半徑測量精度:0.005%;半徑測量范圍:凸:+3mm~無限;凹:-6mm~無限
      用于高精度光學樣板曲率半徑測量和光學元件曲率半徑檢驗
      大口徑激光干涉儀( Verifire XP/D Interferometer)
      三平板重復性:<2nm,λ/300;RMS重復性:<0.1nm,λ/10,000;條紋分辨率:180條紋;分辨率:>λ/8,000( 二次通過);相干長度:>100m
      精密測量各種反射面和光學系統的表面面形、精密測量光學系統的傳輸波前
      菲索型動態干涉儀( Intellium     H2000 Interferometer)
      測量元件反射率范圍:0.1%-100%;測試精度PV值優于100; 1K*1K空間分辨率,優于300的條紋分辨率;相干長度:>328ft(100m)
      測量光學件表面、機械拋光表面和半導體晶片表面
      橢偏儀( Ellipsometer)
      光譜范圍:190-1100nm;樣品最大直徑:200mm;自動變角范圍:15°~90°;單色光源的焦距:160mm
      用于研究分析半導體、電介質、聚合物、金屬、多層膜等材料的特性,可測量其透射、反射、相位延遲量、雙折射、退偏、散射和穆勒矩陣等
      TESA VISIO 300 GL同軸變焦型影像測量儀
      XY平面精度:(2.0+4L/1000)μm,(L單位為mm);z軸精度(2.9+5L/1000)μm,(L單位為mm);
      測量范圍300X200X150mm(X/Y/Z);工作臺表面尺寸:510x480m(X/Y);工作臺承重:16公斤;
      通過光學成像完成非接觸測量,特別適合于沖壓件,塑料件,注塑件和絲膜印刷,電子等行業的測量要求
      非球面檢測儀( LuphoScan measuring system)
      精度(光束入射角度<2°):拋光:Ra<1μm 1μm≤Ra≤3μm ±50mm ±250nm ±1μm ;測量范圍:420mm(直徑)×80mm(高度);
      重復性:±20nm(2σ);縱向分辨率:0.1nm;光斑大小:4μm;最大測試口徑:420mm
      用于旋轉對稱表面的光學鏡片面形測量,包括球面、非球面、平面、柱面、錐面等
      LAS激光定心裝配工作臺( Laser Alignment and Assembly Station)
      測量精度:TIR 0.5um;直線導軌:1250mm;有效工作空間:1.0m;樣品臺:Φ400mm;空氣軸承,承重:900kg;
      軸向/徑向跳動精度:0.05m,軸晃動:0.025um/25mm;高精度杠桿表:0.1um
      用于光學系統單元裝配、系統調試過程中光學元件中心偏差的精密測量和校正
      粗糙度微輪廓儀( Surface Profiler)
      測量范圍:最大可測直徑Φ300mm;測量陡度:最大可測70°;球面測量的重復性:<100nm
      用于光學元件的表面粗糙度和面形測量



      當前位置
      全屏背景
      全屏背景
      自定內容
      聯系電話:13671868569       朱先生        電子郵箱:zhujing@lasensor.com

      聯系電話:13795298836       宋女士        電子郵箱:songyinping@lasensor.com

      公司地址:上海市嘉定區永盛路2118號 

      自定內容
      Shanghai Lasensor Photoelectric Technology Co., Ltd.
      圖片
      自定內容
      上海鐳慎光電科技有限公司
      欧美日韩高清无水印在线,98久久超碰国产精品最新,拍视频最好的国产手机,国产成人精品日本亚洲777,在线观看国产一线天木耳奈奈,日韩亚洲欧美区文字电影
      <span id="05qn5"><sup id="05qn5"></sup></span>
    2. <track id="05qn5"><i id="05qn5"><code id="05qn5"></code></i></track>

      <ruby id="05qn5"><i id="05qn5"></i></ruby><optgroup id="05qn5"></optgroup>
      1. <cite id="05qn5"><li id="05qn5"></li></cite>

        <cite id="05qn5"></cite>